Каталог стандартов
| ГОСТ 8.593-2009 | ||||
| Название | Государственная система обеспечения единства измерений . Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки | Կարգավիճակը | Действующий | |
| Принят в РА | Министерство экономики Республики Армения2008 | |||
| № | 550-A | |||
| Дата Принятия в РА | 2011-08-01 | |||
| Дата Введения | 2011-08-01 | |||
| Разработчик Н/Д и его адрес | ОOO «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума», «Курчатовский институт» и «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия) | |||
| Категория | ГОСТ - межгосударственный НД | |||
| Классификация |
17.040.01 МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом |
|||
| Ссылки |
"-" = Ссылки без эл. файлов
|
|||
| Дата регистрации | 0000-00-00 | |||
| Регистрационный № | ||||
| Кол-во Страниц | ||||
| Источник Информации | №- | |||
| Язык оригинала | Русский | |||
| Переведен на | ||||
| Ключевые Слова |
пиксель рельеф поверхности (твердого тела) сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп элемент рельефа (поверхности) |
|||
| Изменения НД | Не изменялся | |||
| Цена в драмах РА (включая НДС) | 2800 | |||
