Каталог стандартов
Каталог стандартов
17
МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ
17.040
Линейные и угловые измерения
17.040.01
Линейные и угловые измерения в целом
| Обозначение Н/Д | Наименование Н/Д | Կարգավիճակը | Разработчик Н/Д и его адрес | Цена в драмах РА (включая НДС) |
Корзина |
| ГОСТ 8.591-2009 | Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки | Активный |
ОOO «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума», «Курчатовский институт» и «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия) |
4800 |
Русский |
| ГОСТ 8.592-2009 | Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремня. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления | Активный |
ОOO «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума», «Курчатовский институт» и «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия) |
2400 |
Русский |
| ГОСТ 8.593-2009 | Государственная система обеспечения единства измерений . Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки | Активный |
ОOO «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума», «Курчатовский институт» и «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия) |
2800 |
Русский |
| ГОСТ 8.594-2009 | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки | Активный |
ОOO «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума», «Курчатовский институт» и «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия) |
3200 |
Русский |
